1. Fabrication and characterization of sub-0.25 micrometer CMOS p-n junctions by low energy gallium ion focused ion beam implantation

پدیدآورنده :

کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)

موضوع : @p n junction,Applied sciences,Condensation,Electrical engineering,gallium,Pure sciences